可靠性實驗室設(shè)備符號
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發(fā)表時間：2014-11-20
可靠性實驗室設(shè)備符號
2.2.1 結(jié)構(gòu)性能、作用效應(yīng)及幾何尺寸：
R——結(jié)構(gòu)構(gòu)件的抗力；
S——結(jié)構(gòu)構(gòu)件的作用效應(yīng)；
o——結(jié)構(gòu)重要性系數(shù)；
lo——受彎構(gòu)件計算跨度；
lc——空間結(jié)構(gòu)的短向計算跨度；
H——柱、框架或墻的總高；
Hi——多層或高層房屋第層層間高度；
——受彎構(gòu)件的撓度；
——柱、框架或墻的頂點水平位移值；
δ——構(gòu)件側(cè)彎矢高。
2.2.2 鑒定評級：
au、bu、cu、du——構(gòu)件或其檢查項目的安全性等級；
Au、Bu、Cu、Du——子單元或其中某組成部分的安全性等級；
Asu、Bsu、Csu、Dsu——鑒定單元安全性等級；
as、bs、cs ——構(gòu)件或其檢查項目的使用性等級；
As、Bs、Cs ——子單元或其中某組成部分的使用性等級；
Ass、Bss、Css ——鑒定單元使用性等級；
a、b、c、d ——構(gòu)件可靠性等級；
A、B、C、D ——子單元可靠性等級；
Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ ——鑒定單元可靠性等級；
子單元或其中某組成部分的適修性等級；
Ar、Br、Cr、Dr——鑒定單元適修性等級。
